La journée technique « Métrologie » a pour but d’aborder le dimensionnement géométrique, le tolérancement, les états de surfaces, ainsi que les moyens de métrologie mis à disposition pour évaluer la conformité des produits.
Les nouvelles technologies de mesure et l’amélioration de la productivité feront également l’objet des discussions envisagées. Cet événement aura lieu le jeudi 29 septembre 2011 de 9 h 00 à 12 h 00, dans les locaux de l’IPV.
Le programme complet de ces différentes journées est disponible sur www.institut-vernier.fr